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項目名稱 | 高純材料分析 |
| 檢測目的 | 鑒定高純度材料的成分含量 | |
| 檢測范圍 | 各種金屬，高純材料 |
| 項目簡介 |
高純材料的分析通常通過輝光放電來進行檢測，非常適合于導體（和/或）非導體復合鍍層的分析。靈敏性非常高，可分析70多種元素。
在金屬分析領域中，輝光放電分析是濃度分析和表面分析最理想的手段。表面處理工藝過程，如表面滲碳硬化或滲碳熱處理等，都可以通過分析被處理材料的表面和近表層區(qū)域實現質量控制。采用濃度分布分析功能可以精確地測量涂（鍍）層厚度及化學成分。
檢測材料
一、貴金屬
金（3N,4N,4N5）、銀（3N,3N5,4N）、鉑（3N,3N5,4N）、鈀（3N,3N5,4N）、銠（3N,3N5,4N）銥3N,3N5,4N）、釕（3N,3N5）
二、有色金屬
鎢條（3N,4N）、鉭粉、鈮條、銦（3N,4N）、鉬條、鎵（3N,4N,5N,6N）
三、其他高純物質
石墨、碳、硅、碳化硅、陶瓷、鍺、三氧化二鋁、高純二氧化鍺鍺（5N,6N）
高純四氯化鍺（5N,6N）
| 檢測方法 |
除去標準中指定方法外，我們還可用GDMS來對高純物質進行成分分析
GDMS-輝光放電質譜儀
檢測面積：40－200平方毫米（消耗50微米厚度的樣品）
檢測極限：ppb 級別
檢測范圍：73種元素
粉末制樣：高純銦
| 實驗室 |
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容大檢測——科學 公正 創(chuàng)新 高效！
標簽： 高純材料雜質分析 高純鋁成分分析 錫條成分分析 二氧化硅成分分析 鋅塊雜質元素分析