ISO 15848-1試驗(yàn)

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低泄漏試驗(yàn) 項(xiàng)目名稱 ISO 15848-1試驗(yàn)
 
檢測(cè)目的 評(píng)價(jià)閥門閥桿部位密封性能
 
檢測(cè)范圍 各種閥門
   ISO 15848-1

  ISO 15848-1:2006  工業(yè)閥門. 漏氣的測(cè)量、試驗(yàn)和鑒定程序第 1  部分 閥門的分類體系和型式試驗(yàn)鑒定程序:

 根據(jù)待測(cè)試閥門的設(shè)計(jì)溫度、壓力,按照標(biāo)準(zhǔn)選擇合適的測(cè)試環(huán)境進(jìn)行低泄漏型式測(cè)試。測(cè)試介質(zhì)為純度97%以上的甲烷或者氦氣。性能等級(jí)分為:溫度等級(jí)、耐久等級(jí)、密封等級(jí)三項(xiàng)。

   ISO 15848-1標(biāo)準(zhǔn)

 

 1.3技術(shù)要求   

 a) 氦氣監(jiān)測(cè)儀器的類型要包括(但并不僅限于)質(zhì)譜分析、紅外吸收和分子篩網(wǎng)。   

 b) 儀器的線性反應(yīng)量程和測(cè)量量程應(yīng)包含規(guī)范所要求的泄漏濃度范圍。氦氣經(jīng)探頭稀釋后達(dá)到量程范圍也可以,但是氦氣取樣探頭直徑的技術(shù)要求仍然必須滿足。   

 c) 在檢測(cè)不可測(cè)量的泄漏時(shí),儀器表盤精度需為泄漏標(biāo)準(zhǔn)濃度的±2..5%     

 d) 儀器要配有電動(dòng)泵,以確保取樣在瞬間流速內(nèi)被送達(dá)探頭。 探頭流速需在 0.5 升/分鐘到 1.5升/分鐘之間。   

 e) 儀器需配有探頭或者伸長(zhǎng)探頭以用于取樣,探頭外圓不得超過(guò) 1/4 英寸。 探頭帶有單頭開(kāi)口以用于取樣。     

1.4試驗(yàn)要求     

1.4.1溫度影響     

1.4.2天氣時(shí)間     

1.4.3安全   

1.5泄漏量測(cè)量     

1.5.1 校準(zhǔn)程序     

按照制造商的操作指導(dǎo)書(shū)安裝并開(kāi)始氦氣分析儀。在適當(dāng)?shù)臒釞C(jī)并內(nèi)部校零后,將校準(zhǔn)氣體引入儀器標(biāo)準(zhǔn)探頭。 調(diào)整儀器讀數(shù)對(duì)應(yīng)到校準(zhǔn)氣體值。      注:如果儀器讀數(shù)不能調(diào)整到合適的數(shù)值,分析儀將顯示故障。     

1.5.2 測(cè)量      按制造商規(guī)定啟動(dòng)氦質(zhì)譜儀,電子元器件熱機(jī)。     

a) 校準(zhǔn);     

b) 背景噪聲測(cè)量:每次測(cè)量前,對(duì)泄漏源附近大氣中的氦濃度進(jìn)行確定,方式是在泄漏源附近 1-2 米處隨機(jī)移動(dòng)探頭。如果大氣氦氣濃度跟附近的泄漏濃度有干涉, 大氣濃度的確定可以更靠近泄漏源,但是最近不得低于 25 厘米。     

c) 探頭盡可能靠近潛在泄漏源,也就是:      ---閥桿伸出填料處的交界;      ---閥體密封件的外緣。     

d) 沿著交界圓周移動(dòng)探頭同時(shí)觀察儀器讀數(shù)。     

e) 如果讀數(shù)上升,慢慢在泄漏處取點(diǎn)直到獲得最大讀數(shù)。     

f) 將探頭進(jìn)口置于讀數(shù)最大處,持續(xù)時(shí)間約為儀器響應(yīng)時(shí)間的兩倍。     

g) 然后操作者讀出最大值并記錄下來(lái),記錄方式為:將探頭置于同一個(gè)地方,保持約兩倍的儀器響應(yīng)時(shí)間(即:對(duì)于 5-m 標(biāo)準(zhǔn)探頭,該時(shí)間約為幾秒鐘)。     

h) 測(cè)量結(jié)果和背景噪聲之間的差別用以確定是否不存在可探測(cè)泄漏。     

i)  可探測(cè)泄漏使背景水平低于可接受泄漏水平(50 PPMV)。

       

容大檢測(cè)閥門實(shí)驗(yàn)室

   容大檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

實(shí)驗(yàn)室環(huán)境

                          


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