檢測(cè)項(xiàng)目
TAG標(biāo)簽
聯(lián)系我們
  • 電話(huà):17766358885
  • 郵箱:098@rd-test.com
  • 地址:無(wú)錫市錫山區(qū)
              春暉東路151號(hào)
在線(xiàn)客服

微觀(guān)分析

您當(dāng)前的位置:首頁(yè) >> 檢測(cè)項(xiàng)目 >> 金相分析 >> 微觀(guān)分析
微觀(guān)分析 項(xiàng)目名稱(chēng) 微觀(guān)分析
檢測(cè)目的 觀(guān)察微觀(guān)區(qū)域的形貌
檢測(cè)范圍

電子元器件、汽車(chē)電子、

醫(yī)療、通訊、手機(jī)、電

腦、電氣等

   微觀(guān)分析項(xiàng)目簡(jiǎn)介

      按照具體檢測(cè)要求,通過(guò)光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡對(duì)樣品的表面、斷口及其它關(guān)注截面進(jìn)行高倍觀(guān)察。比如表面形貌、斷口形貌、金相組織、微觀(guān)層狀結(jié)構(gòu)等需要進(jìn)行高倍觀(guān)察的檢測(cè)項(xiàng)目。對(duì)于電鏡,借助輔助設(shè)備,還可以進(jìn)行微觀(guān)區(qū)域內(nèi)的成分分析,通過(guò)線(xiàn)掃和mapping能夠得出元素分布情況。電子探針和能譜的探測(cè)范圍為Be~U。

   微觀(guān)分析試驗(yàn)?zāi)康?/strong>

微觀(guān)分析宏觀(guān)的目的都是單純的評(píng)定組織(包括晶粒組織、形態(tài)、取向,沉淀和夾渣與各種裂紋和空穴關(guān)系,檢測(cè)截面還要能記錄截面平面的取樣形態(tài))。

 

 微觀(guān)分析試驗(yàn)步驟

一般步驟

制樣(切割、鑲嵌、研磨、拋光、適當(dāng)腐蝕)→腐蝕→觀(guān)察

 

 微觀(guān)分析試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn)

光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)、電子探針(EPMA)、能譜(EDS)

 

 容大檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

實(shí)驗(yàn)室環(huán)境


容大檢測(cè)——科學(xué) 公正 創(chuàng)新 高效!

 

標(biāo)簽: 微觀(guān)成分分析 微觀(guān)分析 低倍組織 鍍層厚度分析 微觀(guān)形貌分析

檢測(cè)申請(qǐng)

項(xiàng)目名稱(chēng)
聯(lián)系人姓名
聯(lián)系人手機(jī) *
檢測(cè)要求
驗(yàn)證碼

微觀(guān)分析相關(guān)項(xiàng)目