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氦質譜檢漏泄漏率介紹

發(fā)布日期:2023-03-20

氦質譜檢漏顧名思義,在一定壓差的前提下,介質通過單位時間內泄漏部位的標準氣體量。

對于質譜氦泄漏測量方法,根據氦的特殊性質,泄漏檢測介質為氦,檢測方法為質譜儀,常用的使用方法有槍法和真空法,或稱為內部和外部檢測法。

絕對無泄漏系統不存在。質譜氦泄漏檢測是基于一定壓差下氦作為泄漏介質的條件的檢測結果。因此,不同的壓差條件和不同的介質條件有不同的泄漏率。

根據磁場作用下不同分子量的分子根據離子的質荷比(m/z)分離,測量分子量進行成分和結構分析:電場對帶電粒子的加速和偏轉。

為什么氦被用作示宗氣體?

氦的特性:

分子量小,活躍。

空氣中含量小:5PPM。

氦是惰性氣體,無毒無害。

對于槍法,基于大氣中的氦含量,背景值通常通過調節(jié)針閥調整到-6級來定性泄漏測量;對于真空法,可以定量測量泄漏。

檢漏儀三大模塊:

1.真空系統。

前泵+分子泵組合成真空系統,以獲得高真空。

2.檢測系統。

閥門、內置漏孔、氦質譜室。

3.電路系統。

電信號控制系統由主板、電源板、分子泵驅動板、通信板組成。

真空法

基本方法比較:注:空氣中約5ppm氦氣成分。

注:注:

建議每月對檢漏儀進行校準檢查;

氦檢儀工作時必須放在水平地面上,不得移動;

上部檢測口不能在TEST狀態(tài)下打開,只能在VENT狀態(tài)下打開;

四種常見的氦質譜檢漏方法的檢測原理、優(yōu)缺點及檢測標準:

氦質譜檢漏法是利用氦質譜檢漏儀的氦分壓力測量原理,實現被檢件的氦泄漏測量。當被檢件密封面有漏孔時,表示泄漏氣體氦等成分的氣體會從漏孔中泄漏。泄漏氣體進入氦質譜檢漏儀后,由于氦質譜檢漏儀的選擇性識別能力,只給出氣體中氦分壓信號值。在獲得氦信號值的基礎上,通過標準漏孔比較,可以獲得氦泄漏量。

氦質譜檢漏法可分為真空法、正壓法、真空壓力法和背壓法??偨Y了這四種氦質譜檢漏法的檢測原理、優(yōu)缺點和標準。

真空法氦質譜檢漏。

采用真空法泄漏檢測,需要使用輔助真空泵或泄漏檢測器對被檢產品內部密封室進行真空,采用氦罩或噴霧法在被檢產品外表面施加氦氣。當被檢產品表面有泄漏時,氦氣將通過泄漏進入被檢產品內部,然后進入氦質譜泄漏檢測儀,從而實現被檢產品的泄漏測量。根據泄漏氣體的不同方法,真空法可分為真空噴霧法和真空氦罩法。其中,真空噴霧法通過噴槍向被檢產品外表面噴灑氦氣,可實現漏洞的準確定位;真空氦罩法采用具有一定密封功能的氦罩覆蓋所有被檢產品,覆蓋一定濃度的氦氣,可實現被檢產品總泄漏率的測量。

真空法具有檢測靈敏度高、定位準確、檢漏大容器或結構復雜的優(yōu)點。

真空法的檢測標準主要包括QJ3123-2000氦質譜真空泄漏檢測方法、GB/T15823-2009氦泄漏檢測,主要用于真空密封性能要求,單車、環(huán)境模擬設備等真空密封性能要求。

正壓法氦質譜檢漏。

采用正壓法檢漏時,需要將被檢產品內部密封室充入大氣壓力以上的氦氣。當被檢產品表面有漏洞時,氦氣會通過漏洞進入被檢外表面周圍的大氣環(huán)境,然后通過吸槍檢測被檢產品周圍大氣環(huán)境中氦氣濃度的增加,從而實現被檢產品的泄漏測量。根據氦氣收集方法的不同,正壓法可分為正壓吸槍法和正壓積累法。其中,正壓吸槍法采用泄漏探測器對被檢產品外表面進行掃描探測,可實現漏洞的準確定位;正壓積累法采用具有一定密封功能的氦罩覆蓋所有被檢產品,用泄漏探測器測量一段時間前后氦罩內氦濃度的變化,實現被檢產品總泄漏率的準確測量。

正壓法的優(yōu)點是不需要輔助真空系統,可以精確定位,實現任何工作壓力下的檢測。

正壓法的檢測標準主要包括QJ3089-1999《氦質譜正壓泄漏檢測方法》、QJ2862-1996《壓力容器焊接氦質譜吸槍罩盒泄漏檢測方法》,主要用于高壓氦氣瓶、艙門檢漏儀等大容量高壓封閉容器產品的泄漏檢測。

真空壓力法氦質譜檢漏。

當采用真空壓力法泄漏檢測時,需要將被檢測產品整體放入真空密封室,真空密封室與輔助空氣系統和泄漏檢測器連接,被檢測產品的充氣接口通過連接管引出真空密封室,然后與氦源連接,當被檢測產品表面有泄漏時,氦通過泄漏進入真空密封室,然后進入氦譜泄漏檢測器,實現被檢測產品總泄漏率的測量。

真空壓力法的優(yōu)點是檢測靈敏度高,能實現任何工作壓力的泄漏率檢測,反映被檢件的真實泄漏狀態(tài)。

真空壓力法的檢測標準包括GB/T15823-2009氦泄漏檢測,主要用于電磁閥、高壓充氣管道、推進劑儲箱、天線、應答器、整星產品等結構簡單、壓力不是特別高的密封產品。

背壓法氦質譜檢漏。

當使用背壓檢漏時,首先將被檢產品放入高壓氦室,浸泡數小時或數天。如果被檢產品表面有漏孔,氦通過漏孔壓入被檢產品內部密封腔,增加內部密封腔內氦的壓力。然后取出被檢驗產品,吹出表面殘余氦,將被檢驗產品放入與泄漏檢驗儀相連的真空容器中。被檢驗產品內部密封腔內的氦通過漏孔泄漏到真空容器中,然后進入氦質譜泄漏檢驗儀,實現被檢驗產品的總泄漏率測量。泄漏檢驗儀給出的泄漏值為測量泄漏率,需要通過轉換公式計算被檢驗產品的等效標準泄漏率。

背壓法的優(yōu)點是檢測靈敏度高,可實現小型密封容器產品的泄漏檢測,可進行批量檢測。

背壓檢漏標準主要包括QJ3212-2005《氦質譜背壓檢漏方法》、GJB360A-1996《電子電氣元件試驗方法112密封試驗》,主要用于各種電子元件產品的檢漏。

涉及測試:低泄漏測試